Der **InVision Day Metrology 2026** findet am **10. Juni 2026** als **kostenfreie Online-Konferenz** für **Messtechnik, CT/Röntgen und NDT** statt und wird von InVision bereits zum **vierten Mal** ausgerichtet. In **vier Online-Sessions** stehen die Themen 3D-Scanning, Automated Metrology, Surface Inspection sowie CT X-Ray & NDT im Fokus.
Geplant sind Fachvorträge u. a. von **AT Sensors, Bruker Alicona, Shining 3D, Wenzel Group** und **Wert Messtechnik** sowie eine Expertenrunde **„The Future of Metrology“** (u. a. mit **Faro, Creaform, Fraunhofer IPM, Zeiss Industrial Quality Solutions**). **Keynote-Speaker** ist **Prof. Dr. Jörg Seewig** (Toolbox 16.16 für Surface Topography).
**Programm und Registrierung:** http://www.invades.com/metrology.
Hinweis: Die Audioaufnahme wurde **KI-generiert** und vom **TEDO Verlag** bereitgestellt.
* Diese Inhalte wurden mithilfe von Künstlicher Intelligenz erstellt und können Fehler enthalten.
Datum: 10. Juni
inVISION Day Metrology 2026 – Digital Conference for Metrology & NDT
Es ist wieder so weit: Der inVISION Day Metrology 2026 steht unmittelbar bevor. Am 10. Juni präsentiert inVISION bereits zum vierten Mal die neuesten Trends und Produkte auf der Online Konferenz für Messtechnik.
Vier Online-Sessions: 3D Scanning / Automated Metrology / Surface Inspection / CT/X-Ray & NDT
Spannende Präsentationen von AT Sensors, Altimet, Bruker Alicona, Eleven Dynamic, FMT, Metubiq, Opto, Shinephi, Shining 3D, Wenzel Group, Werth Messtechnik …
Expertenrunde: ‚The Future of Metrology‘ mit AT Sensors, Faro / Creaform, Fraunhofer IPM, Visiconsult, Werth Messtechnik, Zeiss Industrial Quality Solutions
Keynote: Prof. Dr. Jörg Seewig (RPTU) ‚Toolbox 16610 for Surface Topography‘ Event Partner: Control & EMVA
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